李德视觉CIBF2025圆满收官

本次展会现场，李德视觉重磅推出了基于全链路FPGA架构的AI线扫相机，该系统将图像采集、处理和算法全部嵌入FPGA芯片，可检测最小至1μm的缺陷，且每秒可实现300个缺陷的检出与分类，为您提供检测、分类到剔除一站式方案。

展会期间，来自全球各地的电池制造商、新能源薄膜生产企业、系统集成商、科研机构等专业客户纷纷前来参观交流。大家深入了解了李德视觉在表面检测领域的丰富经验与技术实力，并都对公司的产品体系、应用案例以及未来发展规划表现出了浓厚的兴趣。

在与客户的交流过程中，李德视觉团队针对不同客户的个性化需求，提供了定制化的解决方案，众多客户对李德视觉的产品和服务都表达了强烈的合作意愿，现场达成了多项初步合作意向。